4. Surface Analysis

4. Surface를 분석하는 기계

우리는 지금까지 표면에 대해 공부했고, 표면이 어떤 조성, 어떤 face, 모양이냐에 따라

표면의 성질이 천차만별로 변화하는 것을 보았다.

 

따라서 표면이 과연 실제로 어떻게 구성이 되어있는지가 굉장히 중요하다.

 

우리는 표면을 관찰하는 방법 중 크게 2가지가 존재한다.

 

간접적인 방법 : XRD

직접적인 방법 : SEM, TEM, AES, XPS, SIMS, STM, AFM 등등

 

그래서 우리는 2,3단원에서 간접적인 방법인 XRD에서 배웠으니,

이번 4단원에서는 직접 표면을 관찰하는 분석기기들의 원리, 구조, 사용방법 등을 배울 것이다.

 

4-1. Chemical Composition of Surfac

AES

 

XPS

 

SIMS

 

Vibration Frequency

4-2. Structural Analysis

SEM

 

TEM

 

STM

 

AFM